Onto Innovation Inc

Onto Innovation Inc. gestaltet, entwickelt, produziert und unterstützt Prozesssteuerungswerkzeuge, die Makrodefekt-Inspektion und Metrologie in den Vereinigten Staaten, Taiwan, Südkorea, Japan, China, Südostasien, Asien und Europa durchführen. Das Unternehmen bietet Lithographiesysteme und Prozesssteuerungs-Analysesoftware sowie automatisierte und integrierte Metrologiesysteme, vollständige Oberflächeninspektion von Siliziumwafern, Makrodefekt-Inspektion, automatisierte Defektklassifizierung und Musteranalyse, Ausschuss- bzw. Yield-Analysen, undurchsichtige Filmmetrologie, 4D-Geschäftsmodelle, fortgeschrittene Verpackungslithografie, Prozesssteuerungssoftware und Yield-Management-Softwareprodukte. Zudem bietet es Prozess- und Yield-Management-Lösungen sowie Geräteverpackungs- und Testeinrichtungen über eigenständige Systeme für optische Metrologie, Makrodefektinspektion, Packaging-Lithografie sowie transparente und undurchsichtige Dünnfilm-Messungen. Darüber hinaus bietet das Unternehmen ein Portfolio an Prozesssteuerungssoftware, das Lösungen für eigenständige Werkzeuge, Gruppen von Werkzeugen und werkstattweite Suiten umfasst. Ferner betreibt es Systeme und Software, Ersatzteile und weitere Dienstleistungen sowie Softwarelizenzierungsdienste; und bietet fortschrittliche Produktlinien wie FAaST, CnCV und MBIR. Die Produkte des Unternehmens finden Verwendung bei Halbleiter- und fortschritten Verpackungskomponenten-Herstellern; Siliziumwafern; Halbleiter-Integrierte-Schirmentwicklern; Leuchtdioden; Vertical-Cavity-Surface-Emitting-Lasers; Mikroelektro-Maschinen-Systemen; CMOS-Bildsensoren; Silizium- und Verbindungshalbleiter-Leistungsträger; analoge Bauelemente; RF-Filter; Datenspeicherung; sowie in verschiedenen industriellen und wissenschaftlichen Anwendungen. Onto Innovation Inc. wurde 1940 gegründet und hat seinen Hauptsitz in Wilmington, Massachusetts."